温度、湿度の超加速試験
電子部品の耐湿、耐熱信頼性評価試験期間最短に短縮
温度、湿度、バイアスなどを印加する超加速試験装置でIC Moldの亀裂、密封損傷、変形、腐食、絶縁低下等の特性を観察して欠陥を早期に発見
プログラムパターン制御
容易な点検
AUTO / MAN 動作
簡単なインターフェース
オートチューニング機能の内蔵されたP.I.D制御方式の高精度コントローラ採用で優れた温度制御能力
飽和モード、不飽和モード運転選択可能
バイアス印加端子20P標準装備
ラック注文製作可能
二重チャンバーと独立で構成されている空調方式で試料の結露、水漏れを防止
Webサーバー遠隔モニタリングサービス適用可能