半導体デバイスの信頼性の評価及び大量スクリーニング
半導体部品のBurn-Inテスト
半導体デバイスの信頼性評価及び大量スクリーニング
プログラムパターン制御
容易な点検
AUTO / MAN 動作
簡単なインターフェース
幅広い温度制御範囲
結露防止
N2ガスパージ機能
オートチューニング機能の内蔵されたP.I.D制御方式の高精度コントローラの採用で優れた温度制御能力
試験条件の繰り返し、回数を設定可能
基板の縦、横挿入方向選択可能
Webサーバー遠隔モニタリングサービス適用可能