温湿度超加速试验
电子部件的耐湿, 耐热信赖评价 试验时间最大缩短
作为温度, 湿度, bias等应用的超加速试验 装置, 可以通过观察IC Mold的龟裂, 密封 损伤,变形,腐蚀,绝缘低下等特性及早发现缺陷
程序程式控制
易于检查
AUTO / MAN 动作
简单的界面
自动演算功能是采用内置P.I.D控制方式的 高精密控制器具有优秀的温度控制能力
可以选择运行饱和模式, 不饱和模式
Bias应用端子 20P 标准设备
可定制rack
和双重槽独立构成的空调方式 可以防止样品结露,漏水
适用于Web服务器远程监控服务